客戶需求

隨著時(shí)代的發(fā)展，傳統(tǒng)的檢測(cè)手段已無(wú)法滿足市場(chǎng)需求，為進(jìn)一步提高產(chǎn)品質(zhì)量，某儀表生產(chǎn)商希望用手段檢測(cè)儀表殼體，贏得更大的市場(chǎng)。

傳統(tǒng)手段

1.用卡尺進(jìn)行測(cè)量：效率低，精度低，測(cè)量結(jié)果受人為因素影響較大，自由曲面無(wú)法進(jìn)行測(cè)量，卡尺無(wú)法伸入尺寸較小的孔。

2.用三坐標(biāo)測(cè)量：測(cè)量效率較低，三坐標(biāo)測(cè)針無(wú)法伸入較深的孔，自由曲面無(wú)法進(jìn)行測(cè)量。

解決方案

儀表殼體尺寸較小，盲區(qū)較多，拍照式三維掃描儀采集效率較低，CREAFORM三維掃描儀的單線模式，方便我們對(duì)孔位的數(shù)據(jù)采集，使用Polyworks軟件的數(shù)據(jù)至參考對(duì)象曲面偏差的功能，可以直觀的看到曲面的偏差。

首先我們使用CREAFORM三維掃描儀采集儀表外殼表面的三維數(shù)據(jù)，然后使用Polyworks將三維掃描數(shù)據(jù)和CAD數(shù)模進(jìn)行擬合對(duì)齊，然后使用數(shù)據(jù)至參考對(duì)象曲面偏差的功能，測(cè)量曲面的偏差，測(cè)量2D截面的偏差。

下面是方案的大致流程：

采集外殼的三維數(shù)據(jù)；

掃描數(shù)據(jù)

將掃描數(shù)據(jù)和CAD數(shù)模導(dǎo)入Polyworks軟件，然后進(jìn)行對(duì)齊；

將掃描數(shù)據(jù)和數(shù)模對(duì)齊

第三步，使用數(shù)據(jù)至參考對(duì)象曲面偏差的功能，測(cè)量曲面的偏差；

3D曲面偏差

第四步，使用創(chuàng)建標(biāo)準(zhǔn)斷面偏差的功能，測(cè)量斷面的偏差。

2D斷面偏差

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)

使用CREAFORM三維掃描儀進(jìn)行三維掃描，不僅能在掃描過(guò)程中移動(dòng)工件，還能在掃描過(guò)程中實(shí)時(shí)查看掃描數(shù)據(jù)是否完整。

將獲取的儀表外殼三維數(shù)據(jù)導(dǎo)入檢測(cè)軟件Polyworks中，可以迅速檢測(cè)儀表外殼數(shù)模和產(chǎn)品之間的差異，Polyworks能以直觀易懂的圖形比較結(jié)果來(lái)顯示兩者的差異，能夠?qū)x表外殼特征進(jìn)行細(xì)致分析，如孔位、輪廓、曲率等等，同時(shí)還能捕捉并體現(xiàn)斷面的形位偏差。